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纳米颗粒粒度分析仪
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产品名称:
纳米颗粒粒度分析仪
产品型号:
N4 PLUS
产品品牌: 美国Beckman Coulter
产品展商:
上海欢奥科技公司
简单介绍
纳米颗粒粒度分析仪,N4 PLUS,测量范围:1-5,000nm,测量时间:30-180秒,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光。
纳米颗粒粒度分析仪
的详细介绍
N4 PLUS纳米颗粒粒度分析仪
测量范围:1-5,000nm
测量时间:30-180秒
重现性:优于3%CV
粒度分布:可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
精度:2-5%
样品温控范围:0-90℃±0.1℃
数据输出:平均粒度、粒度分布、扩散系数及平均分子量
激光源:10mWHe-Ne激光器,波长632.8nm
探测器:六角度探测器
N4Plus是采用激光法测超细颗粒的粒度分析仪,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态的散射光,通过光子相关光谱分析法PCS(PhotonCorrelationSpectroscopy)分析纳米颗粒粒度,其特点是快速、准确、分辨率高。
是同类产品中唯一采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器。
独有的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型。
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